粉體行業在線展覽
粉體行業在線展覽
Sharpla600 系列缺陷檢測設備
直接聯系
盛吉盛（寧波）半導體科技有限公司
浙江
面議
盛吉盛
Sharpla600 系列缺陷檢測設備
19
Sharpla 600 是專門為檢測 SiC （碳化硅） 缺陷而設計的一款國產自研檢測設備。針對 SiC 襯底和 SiC 外延片各種缺陷檢測。Sharpla 600 采用明場、暗場和光致發光相結合的先進光學技術，能夠快速、準確地檢測出各類缺陷。算法采用經典算法與人工智能算法相結合的方式，使其在數據處理和分析方面更加快速、精確。
結合 DIC、DF 以及 PL 三種光學模式進行檢測，實現全面檢測和測量，提高檢測效率和準確性。
檢測精度：0.3μm
Sharpla600 系列缺陷檢測設備
U380S 系列缺陷檢測設備
缺陷檢測設備 U315 系列
PVD-Auroflux6/8吋薄膜沉積設備
CVD-Quadiance6/8吋薄膜沉積設備
6/8吋薄膜沉積設備 CVD-Expediance
RTA-Brispark12吋快速熱處理設備
12吋快速熱處理設備 RTP-XPEED-IDP
12吋薄膜沉積設備
12吋薄膜沉積設備 PECVD-ZARVIS
電腦組合體系VG42
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測設備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統
金屬稱重檢測一體機
BSD-PB(氣液法)
在體皮膚拉曼分析儀
片式電容四參數測試機
0～10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
