粉體行業在線展覽
A5-SR系列顯微式反射式膜厚測量儀
面議
昆山勝澤
A5-SR系列顯微式反射式膜厚測量儀
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A5-SR系列顯微式反射式膜厚測量儀可用于測量半導體鍍膜。具體包括但不限于氧化硅,氮化硅,多晶硅,PI,光刻膠等透明半透明的材料,測量范圍在20納米到30微米。光斑小于40微米。A5-SR系列可根據客戶給出的Die分布圖和標記,對整個硅片進行自動尋找,自動測量。
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