粉體行業在線展覽
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E1000 化合物半導體缺陷檢測設備
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E1000 化合物半導體缺陷檢測設備
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E1000 化合物半導體缺陷檢測設備
Eagle1000 化合物半導體缺陷檢測設備可以檢測藍寶石，砷化鎵，鉭酸鋰，石英玻璃，磷化銦等襯底及外延片。可以檢測并區分顆粒（particle）、凹坑（pit）、凸起（bump）、劃傷（scratch）、污點（stain）、裂紋（crack）等缺陷，*小可檢測缺陷81nm；支持4@、6@、8@晶圓檢測，具有高產能、檢測準確和檢出率高的優點。
適應晶圓尺寸Wafer Size
l Size: 4", 6", 8" compatible; 標配4 cassettes; other size upon request
l Thickness: 350um~1500um（其它厚度需要測試）
F2000 集成電路前道晶圓缺陷檢測設備
圖形化晶圓缺陷檢測設備
E3200 GaN缺陷檢測設備
E1000 化合物半導體缺陷檢測設備
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COW/COT AOI芯片缺陷檢測設備
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SPI300 晶圓形貌測量與分選設備
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UNI800C多物料配料控制儀
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PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統
金屬稱重檢測一體機
BSD-PB(氣液法)
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片式電容四參數測試機
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三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
