粉體行業在線展覽
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直接聯系
布魯克衍射熒光事業部（Bruker AXS）
德國
面議
1007
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供全球保證！
先進的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。
技術指標：
●Theta/theta 立式測角儀
●2Theta角度范圍：-110~168°
●角度精度：0.0001度
●Cr/Co/Cu靶，標準尺寸光管
●探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器
●儀器尺寸：1868x1300x1135mm
●重量：770kg
應用:
●物相定性分析
●結晶度及非晶相含量分析
●結構精修及解析
●物相定量分析
●點陣參數精確測量
●無標樣定量分析
●微觀應變分析
●晶粒尺寸分析
●原位分析
●殘余應力
●低角度介孔材料測量
●織構及ODF分析
●薄膜掠入射
●薄膜反射率測量
●小角散射
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