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布魯克HB NANOSTAR高亮度納米星小角X射線散射儀

— High End Instrument to Cover All the Applications

小角X射線散射技術(shù)(SAXS)主要用于研究材料的納米結(jié)構(gòu)。傳統(tǒng)的X射線衍射技術(shù)(XRD)常用來(lái)表征納米以下尺寸的有序結(jié)構(gòu)。而在納米材料領(lǐng)域，幾十到上百納米的結(jié)構(gòu)是其研究的主要方向，而且測(cè)試的樣品從溶液、液晶、凝膠、金屬到聚合物固體等變化多端。其內(nèi)部納米結(jié)構(gòu)可能是周期性的，也可能是無(wú)規(guī)排列的，這已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了XRD能夠測(cè)試的尺度范圍和樣品種類，而這些恰恰是SAXS這種無(wú)損檢測(cè)技術(shù)所擅長(zhǎng)的領(lǐng)域。因此SAXS是分析統(tǒng)計(jì)性納米結(jié)構(gòu)所必需的工具之一。

德國(guó)制造，品質(zhì)保證。NANOSTAR同步輻射式的設(shè)計(jì)理念、可選的多種高亮度點(diǎn)光源、無(wú)雜散準(zhǔn)直系統(tǒng)、全真空光路系統(tǒng)及其大面積的實(shí)時(shí)二維探測(cè)器使其可以覆蓋從液體到固體的多種應(yīng)用。其應(yīng)用領(lǐng)域包括溶膠、溶液、金屬（如上圖）、高分子（如上圖）、纖維、催化劑、蛋白質(zhì)（如上圖）等。不論是各向同性樣品還是各向異性樣品均可測(cè)試和分析。

此外，完備的一鍵式數(shù)據(jù)分析軟件也讓NANOSTAR的用戶體驗(yàn)越來(lái)越**。

可選的多種光源

從微焦斑封閉靶到微焦斑轉(zhuǎn)靶再到液態(tài)金屬靶， NANOSTAR為客戶提供了多種選擇，也使實(shí)驗(yàn)室內(nèi)原位研究樣品的動(dòng)態(tài)過(guò)程成為可能。

全真空光路系統(tǒng)

實(shí)驗(yàn)的目標(biāo)是消除外來(lái)因素的影響得到完全屬于樣品本身的散射信號(hào)，因此去除空氣散射勢(shì)在必行。NANOSTAR全真空光路設(shè)計(jì)將空氣散射的影響降到了低值。

大面積實(shí)時(shí)二維零背景無(wú)死區(qū)探測(cè)器

獲得“R&D100”大獎(jiǎng)的第四代探測(cè)器V2000是大面積實(shí)時(shí)二維零背景無(wú)死區(qū)探測(cè)器。140mm的直徑可在任何測(cè)試位置覆蓋大的角度范圍。低像素尺寸提供了高空間分辨率。零背景的特點(diǎn)對(duì)弱散射信號(hào)非常靈敏，特別適合測(cè)試小角X射線散射的樣品。

NANOSTAR不僅僅是一臺(tái)二維小角X射線散射儀，還是一臺(tái)二維廣角X射線散射儀。

通過(guò)改變樣品到探測(cè)器之間的距離可以測(cè)試不同的角度范圍。