粉體行業在線展覽
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直接聯系
Park帕克原子力顯微鏡
韓國
面議
537
全自動原子力顯微鏡實現準確的硬盤磁頭滑塊測量，讓偉大變得簡單
Park Systems的PTR系列是全自動工業級線上原子力顯微鏡解決方案，適用于（不限于）長形條、磁頭萬向節組件(HGA)級滑塊以及單獨滑塊的極尖沉降自動測量。憑借著亞納米級精確度、高重復精度以及高通量，PTR系列是滑塊廠商提高整體產量的理想測量工具。
自動化、快速、精確且可重復的極尖沉降測量
硬盤驅動滑塊制造業要求工具不僅可以快速且流暢地測量極尖沉降，同時保證**標準的精確度。這便是Park NX-PTR大展身手的領域。在超精確的極尖沉降測量之外，自動化功能可極大程度提高效率。這讓NX-PTR成為硬盤驅動器滑塊廠商的**選擇，兼顧**的質量和**的產量。
高通量，無需多次參考掃描
大多數原子力顯微鏡需要多次掃描才可以準確測量極尖沉降，首先是大區域參考掃描，隨后小區域高分辨率掃描。多次掃描占用大量時間，且限制了通量的提高。我們的掃描系統帶來真正的平面掃描，有效地降低掃描次數。此外，True Non-Contact™模式讓探針保持鋒利，在延長使用壽命的同時，提供更持久的高分辨率成像效果。相應地，Park NX-PTR能夠生成感興趣區域的詳細準確圖像，而無需進行參考掃描，以便修正掃描器偽影。
* 應用
自動硬盤滑塊測量
Park NX-PTR恰恰具備這樣的精確且自動的硬盤滑塊測量。
自動極尖沉降測量與分析
借助NX-PTR系統，極尖沉降測量可實現全自動，帶來更高的通量，無論是對于載體、長形條，還是滑塊。
Park Systems的工業級院里子顯微鏡精確且穩定的全自動化極尖沉降(PTR)測量成為可能。
極尖沉降量的監測要求測量精度達到0.1 mm，這意味著離測量表面只有20 μm遠。
自動墻角測量與分析
實現各類墻角的自動測量與分析。
自動缺陷測量與分析
實現各類缺陷的全自動測量與分析，如表面尖角。
NX-PTR擯棄了常見的非線性Z軸電壓信號，而是采用超低噪聲Z軸探測器，從而帶來****的形貌高度精度。憑借著行業**的低噪聲Z軸探測器，正向掃描和反向掃描間隙得以降到掃描范圍的0.15%以內，甚至可以忽略不計，而這時Z軸形貌信號所無法企及的。
熱漂移和滯后極小，大大降低探針漂移
NX-PTR具備極為突出的熱穩定性和機械穩定性，從而大大降低熱漂移，實現更為精確的測量。一般情況下，橫向熱漂移率低于100 nm/°C，而垂直熱漂移率則低于200 nm/°C。
測量控制自動化，釋放您的雙手
NX-PTR配有自動化軟件，操作起來輕而易舉。您只需要選擇想要的測量程序，并設定相應的懸臂調諧、掃描速率、增益和點參數，便可取得多位置分析。此外，Park的用戶友好型界面讓您能夠隨意創建自定義作業程序，以便您完全發揮NX-PTR的實力，滿足所有的測量需求。創建新的作業程序極為簡單。創建新測量文件只需要10分鐘左右的時間，而修改現有的測量文件則不超過5分鐘的時間。
Park NX-PTR的自動化系統具備：
·自動、半自動和手動模式，讓您掌控全局
·各自動程序的可編輯測量方法
·測量過程實時監測
·自動分析所獲取的測量數據
?。∵x項
自動探針更換（選配）
Park推出的自動探針更換系統讓您的自動測量程序可以無縫續航。該系統會根據參考圖形測量數據，自動校正懸臂的位置和優化測量設定。創新的磁性探針更換成功率高達99%，讓您無需分心監督探針更換！
自動激光準直（選配）
Park的自動激光準直系統讓您無需輸入任何數據，便可持續自動測量。憑借著我們先進的預準直懸臂架，激光在自動更換探針時便已對準懸臂。只需要調整定位旋鈕，便可在X和Y軸上任意定位激光光點，達到**位置。
離子化系統可創造更穩定的掃描環境
創新的離子化系統能夠快速有效地消除樣品的靜電電荷。由于系統能夠讓陰陽離子保持**的平衡狀態，樣品得以處在極其穩定的電荷環境中。同時，對周邊區域的污染幾乎可以忽略不計，并將樣品操作時意外產生靜電電荷的幾率降到*低。
