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膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列

MCPD系列

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大塚電子（蘇州）有限公司

江蘇

產品規(guī)格型號

參考報價：

面議

品牌：

大塚電子

型號：

MCPD系列

關注度：

5369

范圍（量程或細度）：

產品介紹

分光光譜儀種類

膜厚測量

半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜

膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)

半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜。

影印機感光鼓膜厚度量測

半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能能性薄膜、包裝膜

LB膜測量

蒸餾膜測量

多點膜厚測量

產品咨詢

膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列

MCPD系列

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