粉體行業在線展覽
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明場光學缺陷檢測設備——BriteSD 300
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睿勵科學儀器（上海）有限公司
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明場光學缺陷檢測設備——BriteSD 300
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明場光學缺陷檢測設備——BriteSD 300
BriteSD系列是睿勵科學儀器(上海)有限公司在2023年**推出的明場光學圖形晶圓缺陷檢測設備。
該系列適用于集成電路制造、化合物半導體等領域的缺陷檢測，
可檢測缺陷類型:顆粒、污染、圖形缺少、劃傷、圖形黏連、殘留等，具備晶圓全表面檢測、
自動缺陷分類以及高分辨率的缺陷復查功能，運用睿勵自主開發的先進光學系統和多種獨特的算法
，可以應用于檢測更小的缺陷。
主要特點：
l 支持8/12吋wafer
l 明場檢測
l 支持硅片、SiC片檢測
l 支持Auto Review 功能
l 可多組倍鏡切換:1X、2X、5X、20X、50X
電腦組合體系VG42
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測設備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統
金屬稱重檢測一體機
BSD-PB(氣液法)
片式電容四參數測試機
0～10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
GJT-2F系列金屬探測儀
