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光學設計
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坦普瑞（上海）光電科技有限公司
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光學設計
360
擁有多位資深的光學設計專家，可以為客戶提供專業化的光學系統設計服務以及產品的定制服務。光學設計項目:成像光學設計:紅外鏡頭，手機鏡頭，指紋儀鏡頭，照相鏡頭，CCTV鏡頭，望遠鏡頭，掃描儀鏡頭，顯微鏡頭，投影鏡頭，工業鏡頭等成像系統的設計。
| 詳細參數 | |
| 儀器指標 | 檢測項目 |
| 超高精密自動測角儀( PrismMaster HR MOT Goniometer) 測量工作臺直徑:Φ200mm;單次測量**精度:0.5";多次測量**精度:>0.2";測量范圍:0°~360°任意角度;微調旋鈕轉動精調:+/-30″ | 測量棱鏡、多邊棱鏡、光楔、窗口以及其他平面光學器件 |
| 光學測量工作站( Optical Test Station) 工作波長:525nm; 焦距:測量范圍:-500mm~-5mm,+5mm~+500mm,重復性:±0.04%~0.3%,精度:±0.04%~±0.3% 后截距及法蘭焦距(BFL/FFL):測量范圍:-500mm~-5mm,+5mm~+500mm,重復性:±0.04%~0.3%,精度:±0.04%~±0.3% 曲率半徑:測量范圍:-500mm~-5mm,+5mm~+500mm,重復性:±0.04%~0.3%,精度:±0.03%~±0.3% 驅動的XY臺面:移動范圍:200mm×150mm,分辨率:1μm | 測量柱面和球面透鏡的：焦距（ EFL ）、后截距及法蘭焦距（ BFL , FFL ）、正/負曲率半徑：對于柱面鏡，額外測量功能：中心偏差（柱軸的頂線與參照面之間的偏差，參照面可為柱面鏡的外沿面）、柱袖與機械參考線的扭轉角度。 |
| 通用途紫外/可見光傳遞函數測試儀(IS-300 UV/VIS MTF TESTSYSTEM) 可測量參數:MTF、**焦平面、場曲、象散、色差、畸變、EFL等;MTF測量精度:+/-0.02MIF;MTF測量重復性:+/-0.01MTF; 場曲:優于+/-5μm;畸變:優于+/-0.5%;焦距測量范圍:3mm~1000mm;**數值孔徑:0.85 | 在可見光及紫外波段對光學系統或光學組件的傳遞函數、焦距和畸變等參數進行測量 |
| 鏡面定位儀( LENSCAN System) 測量范圍:0~600mm光學長度;測量精度:+/-0.15μm;測試重復性:標準偏差 STDEV<100nm(30次測量) | 主要用于光學系統中的透鏡間隔和厚度測量 |
| 超高精密全自動球徑儀( Automatic Spherometer) 曲率半徑測量精度:0.005%;半徑測量范圍:凸:+3mm~無限;凹:-6mm~無限 | 用于高精度光學樣板曲率半徑測量和光學元件曲率半徑檢驗 |
| 大口徑激光干涉儀( Verifire XP/D Interferometer) 三平板重復性:<2nm,λ/300;RMS重復性:<0.1nm,λ/10，000；條紋分辨率:180條紋;分辨率:>λ/8，000（ 二次通過);相干長度:>100m | 精密測量各種反射面和光學系統的表面面形、精密測量光學系統的傳輸波前 |
| 菲索型動態干涉儀( Intellium H2000 Interferometer) 測量元件反射率范圍:0.1%-100%;測試精度PV值優于100; 1K*1K空間分辨率,優于300的條紋分辨率;相干長度:>328ft(100m) | 測量光學件表面、機械拋光表面和半導體晶片表面 |
| 橢偏儀( Ellipsometer) 光譜范圍:190-1100nm;樣品**直徑:200mm;自動變角范圍:15°~90°;單色光源的焦距:160mm | 用于研究分析半導體、電介質、聚合物、金屬、多層膜等材料的特性,可測量其透射、反射、相位延遲量、雙折射、退偏、散射和穆勒矩陣等 |
| TESA VISIO 300 GL同軸變焦型影像測量儀 XY平面精度:(2.0+4L/1000)μm,(L單位為mm);z軸精度(2.9+5L/1000)μm,(L單位為mm); 測量范圍300X200X150mm(X/Y/Z);工作臺表面尺寸:510x480m(X/Y);工作臺承重:16公斤; | 通過光學成像完成非接觸測量，特別適合于沖壓件,塑料件，注塑件和絲膜印刷,電子等行業的測量要求 |
| 非球面檢測儀( LuphoScan measuring system) 精度(光束入射角度<2°):拋光：Ra<1μm 1μm≤Ra≤3μm ±50mm ±250nm ±1μm ;測量范圍:420mm(直徑)×80mm(高度); 重復性:±20nm(2σ);縱向分辨率:0.1nm;光斑大小:4μm;**測試口徑:420mm | 用于旋轉對稱表面的光學鏡片面形測量,包括球面、非球面、平面、柱面、錐面等 |
| LAS激光定心裝配工作臺( Laser Alignment and Assembly Station) 測量精度:TIR 0.5um;直線導軌:1250mm;有效工作空間:1.0m;樣品臺:Φ400mm;空氣軸承,承重:900kg; 軸向/徑向跳動精度:0.05m,軸晃動:0.025um/25mm;高精度杠桿表:0.1um | 用于光學系統單元裝配、系統調試過程中光學元件中心偏差的精密測量和校正 |
| 粗糙度微輪廓儀( Surface Profiler) 測量范圍:**可測直徑Φ300mm;測量陡度:**可測70°;球面測量的重復性:<100nm | 用于光學元件的表面粗糙度和面形測量 |
測溫儀冷卻保護罩（TVL-CWYBHZ）
雙色測溫儀（TM型）
單色測溫儀（TM型）
光學設計
單點金剛石石超精密車削加工
紅外掃描熱像儀
高溫鏡頭
熱像儀氣冷保護罩(TVL-45BHZ-QL)
RM-IR/HD45熱像儀
RM-S830熱像儀
RM-D830短波紅外雙光譜熱像儀
787高溫檢測探頭
電腦組合體系VG42
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測設備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統
金屬稱重檢測一體機
BSD-PB(氣液法)
在體皮膚拉曼分析儀
片式電容四參數測試機
0～10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
