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AF 200微型自動聚焦激光測量系統

德國BMT公司生產的AF200自聚焦測頭系統，可替代現有傳統的位移和粗糙度測頭。實現快速非接觸測量表面形貌，粗糙度以及精密位移。

激光測量光束借助于物鏡聚焦于物體表面，物鏡的位置連續可調，激光束的焦點總是與物體表面重合，可同時測量表面輪廓和局域反射光。

AFS傳感器具有表面復現度高的特點，傳感器可配備微型照相機適配器，以便能夠直接通過物鏡對表面片段直接觀察，使激光光束精密定位。特別開發、高度集成的BMT-IC技術，傳感器熱漂移極低。高倍率孔徑物鏡，保證儀器無論在垂直方向還是在水平方向均能提供較高的分辨率。主要用途：

◆具有完整表面復現的表面粗糙度和輪廓測量

◆精密位移測量

◆微機械零件的尺寸測量

◆金相測量

◆振動測量

◆厚度測量

◆微小區域內直線度、平面度、園弧半徑的測量（如轉位刀片刃口、金剛石刀具）

主要特點：

◆非接觸式表面輪廓測量、反射率的測量、垂直和橫向的尺寸測量

◆ BMT-IC**技術傳感器

◆微型化的傳感器

◆分辨率1nm

◆測量范圍2000μm

◆光斑直徑< 1μm

◆適用于制造業所有粗糙度測量

◆連續變焦

主要優點：

◆在高保真輪廓復現下對3D結構進行快速的非接觸式測量

◆測量結果與表面結構無關

◆數據采集和評估可歸并到已有的軟件中

◆具有可組裝性，可組裝到已有的系統中

技術數據：