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TESCAN S8000超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

TESCAN S8000

直接聯(lián)系

泰思肯貿(mào)易（上海）有限公司.

歐洲

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)

參考報(bào)價(jià)：

200-500萬(wàn)元

型號(hào)：

TESCAN S8000

關(guān)注度：

6347

范圍（量程或細(xì)度）：

1-2,000,000x

應(yīng)用行業(yè)：

特別適合對(duì)電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品的分析。

產(chǎn)品介紹

二次電子圖象分辨率	0.9nm@15kV	放大倍數(shù)	1-2,000,000x
電子光學(xué)	BrightBeam? 電子光學(xué)鏡筒	樣品臺(tái)	超大樣品臺(tái)選配
探測(cè)器	多探測(cè)器系統(tǒng)	背散射電子圖像分辨率	2.0nm@30kV(低真空模式)
加速電壓	50V-30kV

產(chǎn)地屬性	歐洲	儀器種類	場(chǎng)發(fā)射
價(jià)格范圍	200萬(wàn)-250萬(wàn)

全新設(shè)計(jì)的S8000超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可以提供****的圖像質(zhì)量，具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力，能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求，不僅適用于高端的納米分析應(yīng)用，也給操作者帶來(lái)舒適、高效的使用體驗(yàn)。

S8000 FE-SEM的優(yōu)點(diǎn)：

新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù)，保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測(cè)能力
**配置的靜電-電磁復(fù)合物鏡，物鏡無(wú)磁場(chǎng)外泄，實(shí)現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析
配置4個(gè)新一代探測(cè)器，可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀測(cè)，對(duì)樣品信息的采集更加全面
配置大型樣品室，有超過(guò)20個(gè)擴(kuò)展接口，為原位觀測(cè)、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境
可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL，并**實(shí)現(xiàn)與Raman聯(lián)用

創(chuàng)新的電子光學(xué)鏡筒，使電鏡擁有更加出色的超高分辨率

TESCAN S8000配置了**的BrightBeam?鏡筒，實(shí)現(xiàn)了無(wú)磁場(chǎng)超高分辨成像，可以**化的實(shí)現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析。新型鏡筒中的電子光路設(shè)計(jì)增強(qiáng)了低能量電子成像分辨率，特別適合對(duì)電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品的分析。

另外，EquiPower?透鏡技術(shù)可有效減少能量損耗并保證電子鏡筒的穩(wěn)定性。

點(diǎn)擊查看大圖

BrightBeam?電子光學(xué)鏡筒及探測(cè)器系統(tǒng)
（A）Axial detector (In-Beam)
（B）Multidetector (In-Beam)
（C）E-T detector (In-Chamber)
（D）Retractable BSE (In-Chamber)

配備**的多種探測(cè)器，更好的表面靈敏度和對(duì)比度

S8000可配置**的多種探測(cè)器，包括透鏡內(nèi)Axial detector 以及 Multidetector，可選擇不同角度和不同能量來(lái)收集信號(hào)，體現(xiàn)更多種類的信息，同時(shí)獲得更好的表面靈敏度和對(duì)比度。