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M-3手持式四探針測試儀

二、概述

      3型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國標(biāo)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

      成套組成：由M-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺。

儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動/自動轉(zhuǎn)換量程可選；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！

      探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量。配專用探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

      《四探針探頭特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入

儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點(diǎn)。

儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測試。

三、基本技術(shù)參數(shù)

1. 測量范圍、分辨率

    電    阻:   0.010Ω ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω

    電 阻 率:   0.010Ω～ 20.00kΩ-cm，分辨率0.001 ～ 10 Ω-cm

    方塊電阻:   0.050Ω～ 100.0kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□

2. 可測材料尺寸

   手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺決定如下：

    直    徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm。

    SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。

    長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm。.

    測量方位: 軸向、徑向均可.

聯(lián)系人：王經(jīng)理

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