粉體行業(yè)在線展覽
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Leica 三離子束切割拋光儀
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上海進與科學儀器有限公司
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Leica 三離子束切割拋光儀
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LEICA三離子束切割儀
可以靈活選擇多種樣品臺，不僅適用于高通量實驗，也適合于特定制樣需求實驗室。依據(jù)您具體需求，每一臺Leica EM TIC 3X都可裝配多種可切換樣品臺，如標準樣品臺，三樣品臺，旋轉(zhuǎn)樣品臺或冷凍樣品臺，應(yīng)用于常規(guī)樣品制備，高通量樣品制備，以及某些高分子聚合物，橡膠或生物材料等溫度極敏感樣品制備。其與Leica EM VCT環(huán)境傳輸系統(tǒng)相連接，可以實現(xiàn)將冷凍的生物樣品表面受保護地被真空冷凍傳輸進入鍍膜儀或冷凍掃描電鏡Cryo-SEM中，或者應(yīng)用于地質(zhì)或工業(yè)材料樣品，實現(xiàn)真空傳輸。
空氣環(huán)境中，再直接被轉(zhuǎn)移進入后續(xù)步驟技術(shù)手段。例如進Leica EM ACE600進行鍍膜，和/或SEM檢測。
