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ResMap四探針測試儀

ResMap四探針電阻率測試儀

ResMap CDE273四探針太陽能硅片電阻率測試儀

ResMap CDE273四探針電阻率測試儀簡介：

四探針太陽能硅片電阻率測試儀

光伏測試專用美國ResMap四點探針

ResMap CDE273四探針電阻率測試儀的特點如簡述如下:

* 高速穩定及**自動決定范圍量測與傳送，THROUGHPUT高

* 數字方式及每點高達4000筆數據搜集，表現良好重復性及再現性

* Windows 操作接口及軟件操作簡單

* 新制程表現佳(銅制程低電阻率1.67mΩ-cm及Implant高電阻2KΩ/□以上，皆可達成高精確度及重復性)

* 體積小，占無塵室面積少

* 校正簡單，且校正周期長

* 可配合客戶需求，增強功能與適用性

* 300mm 機種可以裝2~4個量測頭，并且可以Recipe設定更換

CDE　ResMap–CDE　公司生產之電阻值測試系統是以四探針的工藝，以配合各半導體成光伏生產廠家進出之生產品質監控，超卓可靠又簡易操作的設備是半導體及光伏生產廠家不可缺少的。

ResMap CDE273四探針電阻率測試儀主要特點：

測量范圍廣，精度高，穩定性好，功能齊全強大，軟件好用，維修成本低，服務好，配件齊全...

美國進口四探針電阻率測試儀(4PP)/方塊電阻測試儀/太陽能光伏擴散薄層電阻測試儀（Four point probe(4PP)）

設備名稱: 四點探針電阻儀 (CDE ResMap)

主機廠牌、型號與附件: CDE ResMap

規格:

1. Pin material: Tungsten Carbide.

2. Pin compression force Typically 100 gm to 200 gm.

3. 樣品尺寸: 2吋至6吋晶圓 (表面須為平整的導電薄膜，半導體材料)

設備用途: 導電薄膜的電阻值分布測量，半導體，光伏

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特點：

1）針尖壓力一致

2）適用于各種基底材料

3）友好的用戶界面

4）快速測量

5）數據可存儲

應用：

1）方塊電阻

2）薄片電阻

3）摻雜濃度

4）金屬層厚度

5）P/N類型

6）I/V測試

ResMap CDE273四探針電阻率測試儀測試性能指標：

探針材料 WC

探頭壽命> 500W次

Resmap168，178，273區別：