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面議
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德國Sentech光伏測量儀MDPmap,靈活的自動(dòng)掃描系統(tǒng)
離線工具M(jìn)DPmap是專為半導(dǎo)體晶片或部分工藝過的晶片的多功能、非接觸和少子壽命測量而設(shè)計(jì)的。MDPmap能夠連續(xù)地改變激發(fā)脈沖寬度,從非常短的脈沖(100ns)到穩(wěn)態(tài)測量(幾ms),研究不同深度的缺陷動(dòng)力學(xué)和少子壽命特性。直觀的繪圖軟件適用于有效的常規(guī)測量以及復(fù)雜的研發(fā)應(yīng)用。
MDPmap設(shè)計(jì)用于離線生產(chǎn)控制或研發(fā)、測量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和缺陷信息等參數(shù)的小型臺(tái)式無觸點(diǎn)電特性測量儀器,在穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵(lì)下(μ-PCD)下工作。自動(dòng)的樣品識(shí)別和參數(shù)設(shè)置允許在從原始生長晶片到高達(dá)95%金屬化晶片的各種工藝階段之后,容易地應(yīng)用于包括外延層的各種不同樣品。
MDPmap的主要優(yōu)點(diǎn)是靈活性高。例如,它允許集成多達(dá)四個(gè)激光器,用于從超低注入到高注入的與注入水平相關(guān)的壽命測量,或者通過使用不同的激光波長提取深度信息。包括偏光設(shè)施,以及μ-PCD或穩(wěn)態(tài)注入條件的選擇。可以使用不同的測量圖形進(jìn)行客戶定義的計(jì)算,以及導(dǎo)出用于進(jìn)一步評(píng)估的主要數(shù)據(jù)。對于標(biāo)準(zhǔn)測量,預(yù)定義的標(biāo)準(zhǔn)僅通過按一個(gè)按鈕即可實(shí)現(xiàn)常規(guī)測量。
優(yōu)勢
。在幾乎任何生產(chǎn)階段,電活性缺陷或材料性能的可視化實(shí)現(xiàn)了工藝優(yōu)化和設(shè)備的性能預(yù)測。
。極其通用的測量方法可實(shí)現(xiàn)特殊測量以及國際標(biāo)準(zhǔn)的可追溯性。
。小型緊湊的臺(tái)式工具,具有很高的測量靈敏度,便于快速常規(guī)測量。
定制5臺(tái)機(jī)連體配套
離子計(jì)
SEM5000X
防爆觸摸屏/防爆電腦/防爆電腦
DLabs-MRS
金屬回收系統(tǒng)
熱風(fēng)循環(huán)烘箱CT-C系列
自動(dòng)吸盤振動(dòng)器離心式G08T
低溫催化LCO
干燥機(jī)控制
智能控制系統(tǒng)
PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統(tǒng)