粉體行業(yè)在線展覽
圖形晶圓缺陷檢測設(shè)備
面議
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圖形晶圓缺陷檢測設(shè)備
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圖形晶圓缺陷檢測設(shè)備 | |
型號 | AMMI-2000 |
晶圓尺寸 | 200mm/300mm |
晶圓類型 | Semi Standards 、MEMS、Glass、Thin、Warped、Taiko、Frame |
檢測方式 | 2D測量 |
檢測模式 | 明/暗場、偏光、微分干涉 |
分辨率 | 6μm - 0.5μm |
產(chǎn)率 | 100WPH@300mm, 6μm |
鏡頭 | 可選配1X, 2X, 5X, 10X, 20X, 50X等放大倍率 |
檢測類型 | 劃傷、外來物污染、RDL缺陷等 |
通訊 | SEMI standard, SECS/GEM |
自動化 | EFEM ( 2 loadPort & Robot) |
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