粉體行業在線展覽
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直接聯系
北京泰坤工業設備有限公司
美國
面議
476
ORTEC光譜放大器和門控積分
型號：673
Spectroscopy Amplifier and Gated Integrate
適用于高計數率和低計數率鍺探測器
半高斯形輸出和門控積分輸出
電荷收集時間變化門控積分補償，改善鍺能量分辨率和高計數率時通過率
成形時間常數：0.25~6μs
增益：1~1500連續可調
單極性脈沖形狀：高斯形
極零調節
基線恢復
積分非線性（單極性）：≤±0.05%（2μs成形時間）
等效輸入噪聲：<4.0μV（增益>100，單極性）
單極性增益溫度穩定性：≤±0.0075%/℃（0-50℃）
單極性DC溫度穩定性：≤±10μV/℃（0-50℃）
譜展寬：<14%FWHM （計數率0-100，000cps，2μs成形時間），測定條件Co-60 1.332MeV，位于分析范圍85%處，單極性輸出
峰位漂移：<0.024% （計數率=100，000cps）；<0.05% （計數率=200，000cps）；測定條件Co-60 1.332MeV，位于分析范圍85%處，單極性輸出
電源需求：+12V/150mA， -12V/75mA，+24V/125mA， -24V/105mA
