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X射線單晶衍射儀

X-ray Single Crystal Diffractometer System

1．用途及特點：

測定新化合物（晶態）分子的準確三維空間（包括鍵長、鍵角、構型、構象乃至成鍵電子密度）及分子在晶格中的實際排列狀況；可以提供晶體的晶胞參數、所屬空間群、晶體分子結構、分子間氫鍵和弱作用的信息以及分子的構型及構象等結構信息。它廣泛用于化學晶體學、分子生物學、藥物學、礦物學和材料科學等方面的分析研究。

精確測定無機物、有機物和金屬配合物等結晶物質的三維空間結構和電子云密度，分析孿晶、無公度晶體、準晶等特殊材料結構；可精確測定無機分子、有機分子、礦質材料以及大生物分子的結構，提供全面的結構數據，并可按不同要求提供各種結構圖、動態圖。

2. 系統總體構成：

高性能混合像素光子直讀探測器；

kappa 四圓測角儀；

X 射線金屬陶瓷管（Mo 或 Cu）；

X 射線發生器；

單毛細管光學器件；

晶體樣品液氮低溫系統；

晶體樣品監視系統；

X 光管的循環冷卻水裝置；

計算機控制系統；

系統控制和數據收集及數據分析軟件。

3. 主要技術參數：

3.1 X 射線發生器和光路系統：

3.1.1 X 射線發生器**輸出功率: 3000W；

3.1.2 **管電壓/通道：60 KV；

3.1.3 **管電流/通道：50 ma；

3.1.4 電流電壓穩定度： 8 小時內變化不超過± 0.1%；

3.1.5 X 射線管保護：過電壓、過電流、冷卻水異常保護；

3.2 測角儀：

3.2.1 類型: kappa 四圓測角儀，步進馬達定位，四個角度均可自由轉動，滿足常規晶體結構分析和專業晶體學研究需要；

3.2.2 角度分辨率：Omega 和 Theta 0.0001 度，Kappa 0.001 度，Phi 0.001 度；

3.2.3 掃描速度范圍 0.005 - 3.0 度/秒；

3.2.4 theta 臂具有通用性，與公司所提供的其他探測器兼容；

3.3. 晶體對中監視系統：CCD 攝像頭加放大鏡頭，安裝在儀器內部用于樣品對心與調整；

3.4 探測器：DECTRIS Pilatus混合像素光子計數探測器；

3.5 高性能計算機實現儀器控制及數據采集；

3.6 系統控制和數據處理軟件：包括控制、維護、數據收集、數據還原和數據分析程序，以及處理孿晶和晶面吸收校正等功能。收集數據和還原數據同步進行；

3.7 液氮低溫系統：溫度范圍 120 - 400 K，控溫精度：± 0.1 K。