粉體行業在線展覽
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上海納騰儀器有限公司
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Scanning Microwave Impedance Microscopy，簡稱為sMIM，掃描微波阻抗顯微鏡，讓您的AFM成為專業的電學顯微鏡！
50nm超高分辨率，~100nm內部電學探測，導體、半導體、絕緣體的廣泛適用度，為您提供電導率、介電常數、摻雜濃度納米級高靈敏度電學表征成像的解決方案。
Scan Wave™ 可應用于多種領域材料的研究和發展：微電子材料，鐵電材料，工業材料，以及石墨烯、碳納米管，2D半導體、納米材料等新星材料等。
獨立掃描模塊，包括微波信號發生器、探針干涉模塊、自主**同軸屏蔽探針、以及微波近場軟件，可應用于各種AFM平臺。
特殊MEMS結構探針，有效避免散雜磁場的干擾
·專業多功能自由切換電學顯微鏡測試功能體驗
sMIM-C成像：介電常數、電容變化；
sMIM-R成像：電導率、電阻率變化；
dC/dV 振幅：載流子濃度；
dC/dV 相位：載流子類型+/- ；
dR/dV 振幅：相關損失系數；
dR/dV 相位：相關損失系數
·高精度電學測試，50nm分辨率；
·工業級高靈敏度、低噪音，“Hard stuff”材料電學測試不再是難題；
·可實現表面下成像、檢測（>100nm)
·不同材料同步測量：導體、半導體、絕緣體、電介質都可以實現，不同的材料甚至分類都可以 在一次掃描中觀測。
·簡易操作：不需要樣品特別處理，不需要將樣品放置在導電或電流中，人性化軟件設計，操作簡單。
·接觸和非接觸模式多種掃描模式：即使在做力曲線，只要你想實現，就可以獲得電學數據；
