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測量各類薄膜、玻璃以及鏡片等的可見光透射比、紫外線透射比、太陽光透射比、可見光反射比，及材料的光譜透射率/反射率曲線，并對材料的顏色特性進行分析，實現280nm-2500nm極寬的測量范圍，滿足GAT744-2013 標準要求。

核心光學設備為國家863（高技術研究發展計劃）項目研究成果，獲美國**授權（**號：US 7，978，324 B2），"國家首批自主創新產品"，"國家重點新產品"榮譽。經由院士領銜的權威專家組鑒定，獲"國際**"評價。

主要特點

1. 采用遠方高精度光譜測量技術，精度高、測量速度快、穩定性好

2. 采用背照式高精度陣列探測器和優質衍射光柵，并采用帶通色輪校正（BWCT）等多項雜散光修正**技術，具有極高的光譜測量分辨率、機低雜散光

3. 高性能準直光源，保證寬波段范圍的測量條件

4. 自帶校正及標定功能，方便用戶自行校零和定標

5. 獨特的紫外-可見波段的雙光路設計，可對光源進行監控和自動補償，減少光源變化帶來的誤差

6. 極寬的光譜測量范圍：280nm-2500nm

?主要技術指標

?典型應用：