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MF250N是UPRtek公司制造的一部輕巧，易攜帶的頻閃測量儀。以其優(yōu)良的性能和極高的性價比在市場上廣受好評。

MF250N手持式光波動頻率測試計(Handheld Lightwave meter)是全球首部**同時具備分光光譜數(shù)據(jù)頻閃檢測儀，同步提供CCT，LUX等光譜計數(shù)據(jù)，專業(yè)的光源驅動波形測試，并附有簡易的光譜測試功能。適合專業(yè)工程人員作為其照明驅動頻率異常的測試；其中的重要頻閃分析參數(shù)有包括有:閃爍百分比（Percent Flicker）和閃爍指數(shù)（Flicker Index）及頻閃效應可視參數(shù)SVM（stroboscopic effect visibility measure）。

功能

手持式頻閃測量儀MF250N偏重于在頻閃（Flicker）數(shù)據(jù)的測試分析，同時可以得到光源的光譜參數(shù)。若客戶僅需透過手持式的儀器與買家或賣家做即時性的產(chǎn)品規(guī)格比對、確認，或者推廣驗證自家產(chǎn)品的質量，選擇MF250N相對是性價比很高的**選擇。

測量模式分為基本模式、光譜模式、頻閃模式、頻率模式、波幅模式。

基本模式中，可以得到測量光源后的相關色溫（CCT）、顯色指數(shù)（CRI）、照度（LUX）、峰值波長λP、曝光時間（I-Time）。

頻閃模式中，在測量界面上可以顯示4個頻閃相關參數(shù)，Flicker Index、Flicker Percentage、Frequency、SVM。此模式是持續(xù)監(jiān)控測量，可以獲得該光源所包含的光源頻率的相對強度。

波幅模式可以連續(xù)監(jiān)控測量得到該光源的頻率和相對強度。

校正

建議每次開機使用MF250N前，執(zhí)行暗校正。同時，本品為高精度測量儀器，內部包含許多敏感元件，請小心使用。為確保測量的準確性，建議每年校正一次，校正服務請與本公司聯(lián)系。

通過 LightWave 模式，好比有一臺示波器立即檢測頻率波形，及顯示振幅大小變化。

透過FFT傅立葉轉換量測，了解燈源驅動原件與光源電路整合后，測出工作狀態(tài)波形vs.頻率，并進一步分析驅動細節(jié)。

IEEE PAR1789-Percent Flicker-頻閃百分比 （以Fpercentage（%）表示）

光源輸出周期變化的相對測量值，數(shù)值高代表頻閃可能性越高

標準：Fpercentage（%）< 輸出頻率 x 0.08

Percent Flicke頻閃百分比r = 100% * [(A-B)/(A+B)]

圖中舉例量測得到結果： 58% 在頻率 120Hz的情況下

58% > 120Hz * 0.08 --à頻閃可能性高

Energy Star-Flicker Index-頻閃指數(shù)（以Findex表示）

數(shù)值：0-1 數(shù)值越大，頻閃越嚴重

限制：

1)100HZ ↓:不可有Flicker

2)100~800HZ: 符合要求區(qū)

3)800HZ ↑ : Flicker 允許（Flicker 指數(shù)可忽略）

SVM（Stroboscopic Visibility Measure）-低頻閃控制技術與指標

推廣單位：PHILIPS & CIE & 美國能源局等組織共同合作研究 -針對 >80HZ 以上頻閃效應的影響，制定量測標準

SVM>1 可見頻閃 ，SVM=1 剛好可見， SVM<1 不可見頻閃

例圖: 自轉的轉盤

便攜手持式頻閃測量儀MF250N的參數(shù)