粉體行業在線展覽
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濱松光子學商貿（中國）有限公司
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C11200/鎖模激光器系統
產品目錄：
| 產品圖像 | 產品型號 | 產品名稱 | 系統名稱 | 掃描重復率 | 時間分辨率(擬合分析) |
| C11200/鎖模激光器系統 | 皮秒熒光壽命測量系統 | 鎖模鈦藍寶石激光系統 | **值 20 MHz | 5 ps |
| C11200/氮激光器系統 | 皮秒熒光壽命測量系統 | 氮激光器泵浦型染料激光器系統 | **10 Hz | 100 ps |
| C11200/PLP系統 | 皮秒熒光壽命測量系統 | PLP系統 | **20MHz | 10 ps |
C11200/鎖模激光器系統：
濱松皮秒熒光壽命測量系統是為滿足研究這類材料的研究者們的需求而開發的。具有皮秒時間響應的光學瞬態記錄儀“條紋眼（streak scope）”的應用，使得超快時間分辨型分光光度法成為現實。
條紋相機技術的應用使探測靈敏度達到光子計數水平。對于同步波長和時間測量，可將光譜儀添加到系統中。波長和時間設置等測量參數可以由電腦控制以簡化實驗室操作。
詳細參數
| 系統名稱 | 鎖模鈦藍寶石激光系統 |
| 波長范圍 | 200--850 nm，400 nm--900 nm |
| 探測器類型 | Czerny-Turner型 (帶像差矯正環形鏡) f=338 mm F3.9 |
| 光柵 | 同時可安裝兩個光柵 （40 gr/mm 到 1200 gr/mm可選） |
| 測量波長范圍 | 280 nm (采用40 gr/mm) 到 10 nm (采用1200 gr/mm) |
| 波長分辨率 | 5.4 nm (采用40 gr/mm) 到 0.18 nm (采用1200 gr/mm) |
| 時間軸 | 1 ns 到 10 ms |
| 掃描重復率 | **值 20 MHz |
| 時間分辨率(擬合分析) | 5 ps |
特性
5 ps時間分辨率
該系統采用條紋相機能實現15 ps的時間分辨率。通過去卷積處理，能獲得5 ps的時間分辨率。
同步多波長測量
由于熒光壽命在多波長無掃描的條件下測量，時間分辨型光譜可以在很短的時間內采集。
二維光子計數
光子計數和條紋相機技術的結合實現了超高靈敏度和同步多波長測量。因為多波長的熒光現象可以 被同步測量，即使極低熒光也能被有效地探測和測量，這是以前的方法不能提供的特性。
優于100，000:1的寬動態范圍
優于100，000：1的動態范圍測量極低熒光。這能實現多組分熒光壽命的高精度分析。
更短積分時間和更好信噪比測量熒光壽命
條紋掃描頻率可以達到20 MHz。通過高速重復掃描的積分，高信噪比測量可以快速完成。
涵蓋從皮秒到微秒的熒光現象
由于掃描時間從1 ns到10 ms可調，從皮秒到微秒的寬范圍熒光壽命測量成為可能。
涵蓋從UV到NIR的寬波長范圍
兩種條紋相機可選，分別具有200-850 nm和300-900 nm的感光范圍
標準光學系統實現簡單光學對準
應用
光物理和光化學的初始研究
表面和界面的微觀環境和動態結構研究
二維分子集合體，例如分子薄膜、LB膜、液晶和沉積膜等動態結構的研究
激子動力學和量子尺寸效應的研究（例如半導體摻雜玻璃和量子線）
有機LED材料的時間分辨型熒光和磷光光譜評價
光子晶體研究
其他領域和熒光壽命相關的研究、評估和檢測
結構圖軟件
●測量界面
電腦控制條紋相機、光譜儀和延遲發生器
條紋先機、光譜儀和延遲發生器的控制窗口顯示在電腦顯示屏上，易于修改時間標度等測量參數和監控波長選擇。“自動延遲（Auto delay）”功能節省了每次時間標度改變時所需的計時。
實時顯示
時間曲線或頻譜可以在顯示屏上實時顯示。這個功能可以用于測量期間選擇時間標度或選定分析數據區域。●熒光壽命分析
多組分分析
同一屏幕的多個數據分析
計算后的熒光壽命數值被顯示在同一屏幕上易于對比分析。
去卷積實現高精度分析
去卷積處理使得熒光壽命分析具有高精度。當分析壽命更長的組分比如磷光時，“Tail Fit”功能可以替代去卷積過程。 ●曲線分析
時間分辨型光譜顯示
實現時間分辨型光譜顯示是條紋相機提供的**特點
光譜和熒光衰減曲線的顯示
顯示每條曲線的半峰寬（FWHW）、峰位置和峰強度。
同一屏幕的多個數據加載和對比
歸一化處理使得多個數據分析變得簡單
