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SOC-200 是一款高精度科研級BRDF測量系統(tǒng)，可以從可見到中紅外波譜范圍內(nèi)全自動測量樣品的BRDF，實現(xiàn)光學(xué)表面、油漆、涂層、液體和顆粒等雙向反射分布函數(shù)（BRDF）制圖。BRDF數(shù)據(jù)可以提供研究材料光學(xué)性能所必須的方向反射信息，如表面能量散射的方向和強度。

主要特點：

n 光譜范圍：0.35~14μm（基于檢測器選項）

n 測量本底噪聲：<10-3sr-1

n 可水平裝置粉末和液體樣品進行測量

n 重復(fù)性：＜本底噪聲的5％

n 全自動測量四個角坐標 （Θ and Φ、入射及反射角）

n 集成電控單元，用于快速處理、顯示和存儲數(shù)據(jù)

n 自動帶通濾光輪，一次性測量十二種多光譜通道。

n 支持斯特林循環(huán)冷卻的MCT和InSb檢測器，可以無人值守地全自動數(shù)據(jù)采集，自動切換標樣樣品測量

測量指標：

n 全半球雙向反射分布函數(shù)（BRDF）

非偏振BRDF

線性偏振BRDF

n 雙向透射分布函數(shù)（BTDF）

應(yīng)用領(lǐng)域：

n 航空工業(yè)

n 國防

n 航天

n 行星探測

n 涂層領(lǐng)域

n 光學(xué)材料質(zhì)量控制

技術(shù)參數(shù)：

產(chǎn)地：美國