粉體行業在線展覽
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上海沃埃得貿易有限公司
美國
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940
產品概述：MWL120實時反射勞厄相機系統用來測定單晶的取向（反射和透射）、單晶的完整性、測量晶體的對稱性、觀察晶體的一般缺陷、拍攝板材棒材的結構相、精確測定點陣常數、測定殘余應力等。
原理：由X射線管產生的X射線從相機的入射光闌射入，照射在被分析樣品上，在滿足布拉格公式：nλ=2dSinθ條件下，產生X射線衍射圖像，這些圖像記錄在感光片上，然后對這些圖像進行計算分析，可以了解物質內部結構。
本產品所具有的特點
1 有效檢測范圍大：30cm×30cm
2 靈敏度高：單光
3 角靈敏度高：0.05
4 探測速度快：幾秒鐘即可根據角的偏差自動收集分析并在電腦上形成勞厄圖像
5 維護成本低：半年更換一次氣體，一年更換一次冷卻劑即可（價格較低廉）
6 樣品可旋轉：探測器轉過程中同時轉動樣品，可以得到對稱性高的圖像
