粉體行業在線展覽
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森諾高科（北京）國際實驗技術有限公司
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Continu m XL 紅外成像系統 采用完全升級的模式，可以從單點分析的顯微鏡
升級配置到目前**的雙排陣列數據采集顯微紅外成像系統和 FPA 焦平面陣
列數據采集顯微紅外成像系統，它代表著目前紅外顯微鏡的**水平，提供
**的空間分辨率的快速樣品分析與研究。
主要特點：
1.涵蓋 Continuμm 顯微鏡所有**技術及強大功能
2.軟件控制單光闌/雙光闌切換，根據樣品不同，提供紅外成像或高空間分辨率、高信噪比的樣品測量
3.透射、反射、掠角反射及 ATR 測量，模式齊全
4.中/近紅外光譜范圍，單點測量5種檢測器可供選擇
5.紅外成像系統獨有高效的雙排陣列檢測器，兩種像素測量尺寸選擇
6.預覽模式下，自動樣品臺有三種移動速度，快速準確找到測量微區
7.高清晰高質量圖像采集模式
8.USB2.0 高速數據傳輸接口
