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應力雙折射儀
WPA-100-MICRO顯微大相位差應力雙折射儀
應力雙折射儀器簡介：
應力雙折射儀，能夠快速測量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質量分析和控制領域。
日本Photonic-lattice成立于1996年，以日本東北大學的光子晶體的研究技術為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術世界，并由此開發出的測量儀器。
PHL顯微鏡下的雙折射測量 WPA-100-MICRO
匹配顯微鏡測量雙折射
測量光學薄膜、鋼化玻璃、有機晶體
薄膜、金屬晶體、不透明基板等材料
在顯微鏡視場下評估和管理雙折射分布
PHL應力雙折射儀器參數：
型號 | WPA-Micro |
測量范圍 | 0-4000nm |
重復性 | <1.0nm |
像素數 | 384x288 |
測量波長 | 523nm，543nm，575nm |
尺寸 | 250x487x690.0mm |
觀測到的面積 | 5倍物鏡：1.1x0.8mm;10倍物鏡：0.5x0.4mm；20倍物鏡：270x200um;50倍物鏡：110x80um;100倍物鏡：55x40um. |
自身重量 | 11kg |
數據接口 | GigE（攝像機信號） RS232C（電機控制） |
電壓電流 | AC100-240V（50/60Hz） |
軟件 | WPA-View（for Micro） |
