粉體行業在線展覽
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北京裕隆時代科技有限公司
荷蘭
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----源自荷蘭飛利浦
Phenom Pro 放大倍數100，000倍，分辨率優于17nm，30秒快速得到表面細節豐富的優質顯微像。是一款功能齊全的高分辨率臺式掃描電鏡，可用于測量亞微米或納米尺寸的樣品。Phenom Pro可選配豐富的拓展功能選件Phenom Pro Suite，如三維粗糙度重建、纖維直徑和孔洞面積（孔隙率）統計分布、高倍拼圖、遠程控制操作等。
PhenomPro臺式掃描電鏡 專業版 —— 智能、高效、多功能 ? 放大倍數：20×-100，000× ? 分辨率：優于17nm ? 電子槍：1500小時CeB6燈絲 ? 抽真空時間：10秒 ? 樣品移動方式：自動馬達樣品臺 ? 樣品定位方式：光學和低倍電子雙重導航 ? 樣品導電性要求：無需噴金，直接觀測絕緣體 ? 拓展功能：3D粗糙度重建、纖維統計測量，高倍拼圖等 ? 環境掃描選件（ESEM）：溫控樣品臺，可直接觀測液體 Phenom Pro （臺式掃描電鏡 專業版） 采用壽命高達1500小時的新一代CeB6燈絲和分辨率更高，功能更全的光學顯微鏡，提高后的光學顯微鏡有聚焦功能，放大倍數在20-120倍之間，具備明場和暗場兩種模式。 |
表面細節豐富的高分辨率照片 | ||
Phenom Pro 為您提供高信噪比、表面細節豐富的優質圖像： | ||
? 20×-100，000×連續放大，分辨率優于17nm，大景深； | ||
? 信號較少的鎢燈絲電鏡通過提高加速電壓來產生更多信號，密度較小的樣品會因為電子穿透過深而導致表面細節缺失。信號是鎢燈絲10倍以上的CeB6在低 | ||
電子穿透深度淺，避免樣品被破壞，展現更多表面細節； | ||
? 探測背散射電子，展現清晰形貌結構的同時，提供豐富的成份信息； | ||
左圖：5kV低加速電壓下，電子反應區位于樣品表面，配合高亮度CeB6燈絲，既保證了分辨率，又得到樣品表面的信息； 右圖：15kV高加速電壓下，電子穿透深度較深，表面細節丟失 | CeB6燈絲在樣品表面單位面積內激發的信號約是鎢燈絲的10倍，適合于低加速電壓觀測 | |
表面形貌和成分信息同時展現 | |
背散射電子的產率、出射角度與樣品成份及表面形貌相關。Phenom采用4分割半導體背散射電子探測器，為您提供兩種成像模式，模式之間可迅速切換： | |
? 成份模式：同時給出樣品表面形貌與成份信息，不同元素可由其灰度對比度的不同加以分辨 | |
? 形貌模式：去除成份信息，樣品表面凹凸起伏等微觀結構更加明晰，適用于表面粗糙度和缺陷分析 | |
成份模式4分割背散射電子探測器扇區所得的信號相疊加 | 形貌模式4分割背散射電子探測器扇區所得的信號相抵消 |
成份模式圖像包含樣品成份與形貌信息 | 形貌模式圖像僅突出樣品表面形貌特征 |
**樣品杯，30秒快速成像 | |
Phenom**樣品杯、低真空設計、**的真空封鎖技術，裝入樣品后30秒內即可得到高質量圖像，耗時僅為傳統電鏡的1/10左右。 |
直接觀看絕緣體，無需噴金 |
Phenom采用低真空技術，出射電子與空氣分子碰撞產生正離子，正離子與樣品表面累積的電子中和，有效抑制荷電效應的產生，直接觀測各種不導電樣品（如下圖所示）。 利用降低荷電效應樣品杯，更可將開始荷電的放大倍數提高8倍左右，而且不會影響燈絲壽命，下圖頭發示例： |
操作簡便，全程導航 | ||
? 自動/手動聚焦 | Phenom操作界面。通過點擊右側圖標可以輕松完成圖像縮放、聚焦、亮度對比度調節、旋轉等操作。界面右側顯示光學導航和低倍SEM導航窗口，方便用戶在不同樣品、不同區域間進行切換。 | |
? 自動/手動亮度 | ||
? 自動/手動對比度 | ||
? 自動燈絲居中調節 | ||
? 自動馬達樣品臺 | ||
? 光學/電子樣品導航 | ||
光學導航，所有帶觀測樣品盡在視野之中，高倍下準確切換樣品，只需點擊感興趣樣品，即可自動移動到屏幕中央 | |
低倍SEM照片導航，導航窗口中的彩色矩形框指示了住觀測窗口的觀測區域，點擊感興趣的區域，自動移動到樣品中央。 |
環境適應性高，完全防震 |
Phenom可以放置在幾乎所有的室內環境當中，無需超凈間。采用燈絲、探測器、樣品臺相對一體化的設計，震動不會引起三者間的相對運動，使Phenom成像不受震動影響，可放置在較高樓層。 |
互聯網遠程檢測 |
Phenom擁有遠程檢測功能，通過網絡，專業工程師可隨時為您遠程檢測系統、答疑解難，為您提供全方位的保護，讓您的Phenom隨時處于**工作狀態。 |
豐富的拓展功能選件 |
適用于不同領域的樣品杯選件 |
