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透射電鏡原位電學性能測試系統(tǒng)
一桿多用:僅僅通過更換芯片,即可實現(xiàn)原位加熱、原位電學、原位液體和原位氣體研究,極為有效的幫助科研人員提高科研水平,極大的拓展透射電鏡TEM應(yīng)用范圍。
由優(yōu)秀科學家精心研發(fā)制造,性能優(yōu)越,質(zhì)量可靠。
透射電子顯微鏡是**的提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗 手段。透射電子顯微鏡原位電學性能測試系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝 掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操控和電學測量。并可在電學測量 的同時,動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征,極 大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。 本系統(tǒng)包括包括兩部分,分別是掃描探針控制器(內(nèi)含電流前置放大器)與原位測量樣品桿部分。
透射電鏡原位光電性質(zhì)測試系統(tǒng)
本系統(tǒng)是在透射電鏡標準樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,可在三維空間內(nèi)對電學探針與光纖探針進行亞納米級精度的操縱與定位。通過電學探針施加電場,通過光纖施加光場,對單個納米結(jié)構(gòu)進行操控并進行電學性質(zhì)、光學性質(zhì)的測量。并可在物性測量的同時,動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征,極大地擴展了透射電鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
透射電鏡原位力學-電學性能測試系統(tǒng)
透射電子顯微鏡原位力學-電學性能測試系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi) 加裝掃描探針控制單元和納牛頓力傳感器,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操控和拉應(yīng) 力、壓應(yīng)力、電學測量。并可在力學、電學測量的同時,動態(tài)、高分辨地對樣品的晶 體結(jié)構(gòu)、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征,極大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與 應(yīng)用領(lǐng)域。 本系統(tǒng)包括包括兩部分,分別是掃描探針控制器與原位測量樣品桿部分。
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