粉體行業(yè)在線展覽
面議
711
儀器簡介:
應用:
◆多種成像方式(亮場、暗場、DIC及365nm UV成像等)可用于不同材料特性的分析;
◆**樣片尺寸可達8英寸,分辨率達0.13um;
◆先進的檢測方式可用于硅片、光罩和其他材料的失效分析及工藝控制。
技術參數:
半自動化的光學檢測設備,被廣泛應用于檢測硅片、光罩、MEMS以及相關產品。采用了高質量的Leica 鏡頭,配激光自動聚焦系統(tǒng)。
主要特點:
◆具紫外光成像功能,成像清晰,分辨率高;
◆模組自動化程度高;
◆軟件操作簡單易學;
◆機型小巧,產能高。
TH-F120
BL-GHX-VK
線性壓電納米位移臺MF40-25A
A500
ParticleX TC
觀世
SuperSEM N10
在線濁度計
SLS-LED-80B
SCI300
ZEUS