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>場發射透射電子顯微鏡HF-3300
直接聯系
似空科學儀器（上海）有限公司
日本
面議
784
特色
0.1 nm(晶體點陣)
0.19 nm(點對點)
0.13 nm(信息極限)
200倍 至 1，500，000倍
300 kV， 200 kV*， 100
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