粉體行業在線展覽
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直接聯系
布魯克納米表面儀器部（Bruker Nano Surfaces）
美國
面議
1001
美國Anasys公司的AFM+可以提供全面的原子力顯微功能，具有強大的分析能力，使得AFM不僅僅是一個普通的成像工具，還可以進行材料納米級尺度的成分分析，熱性能和機械性能的分析。
AFM+的主要特點：
簡潔的安裝與操作
□ AFM+為*便利的使用而設計制造。探針預裝在金屬圓片上，確保探針位置的準確性和裝針的便捷
□ 儀器集幾十年AFM設計大師的經驗之大成，即使初次使用也能快速獲取結果
完整的AFM工作模式
□ 包含所有常規成像模式：接觸、輕敲、相位、側向力、力調制、力曲線
□ 獨有高分辨率低噪音的閉環成像
□ 基于DI傳承的多功能AFM，實現納米熱學，力學，電學和磁學測量：
l納米熱分析模塊（nanoTA， SThM）
l洛侖茲接觸共振模塊（LCR）
l導電原子力顯微鏡鏡（CAFM）
l開爾文電勢顯微鏡（KPFM）
l磁力顯微鏡（MFM）
l靜電力顯微鏡（EFM）
獨有的可升級功能
□ 熱學性能：獨有的熱探針技術，提供納米級紅外分析
□ 機械性能：洛倫茲接觸共振模式能夠提供寬頻納米機械分析
□ 化學性能：可升級具有納米紅外光譜技術，實現局部化學組分分析
□ 近場成像：可升級具有散射式近場光學成像和光譜采集功能
