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專為TKD分析的樣品座，TKD即透射菊池花樣演示分析（Transmission Kikuchi Diffraction）技術(shù)，是**用于檢測僅十幾納米尺度的EBSD分析方法，空間分辨率比傳統(tǒng)技術(shù)提高一個(gè)數(shù)量級。該樣品座方便用戶將超輕薄樣品放 置于SEM中并符合光學(xué)原理的衍射花樣，保證獲得更加準(zhǔn)確的信號量。

TKD分析仍使用原有EBSD軟硬件，只是樣品更薄且經(jīng)過電解拋光穿孔。由于衍射信號來自樣品下側(cè)幾個(gè)或幾十個(gè)納米厚度的區(qū)域，該技術(shù)也被稱為透射 EBSD（T-EBSD）。樣品薄區(qū)的衍射范圍較小，樣品與探測器及極靴的幾何位置是否理想是獲得有效信號的必要條件之一。因此設(shè)計(jì)專門的樣品座做TKD 分析就顯得尤關(guān)重要。

TKD樣品座是專為超薄樣品設(shè)計(jì)，易于固定且符合光學(xué)原理。置于SEM中，即可使用AZtec EBSD系統(tǒng)輕松方便的實(shí)現(xiàn)高分辨的EBSD分析。