粉體行業在線展覽
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瞬渺科技（香港）有限公司
面議
1080
儀器簡介：
太赫茲時域光譜分析（THz—TDS）
典型的THz時域光譜學系統如圖1。用亞皮秒的太赫茲脈沖透過樣品，再經一段對稱的自由空間后由探測器接收，測量由此產生的電磁場強度隨時間的變化（利用傅立葉變換獲得頻域上幅度和相位的變化量），進而得到樣品的信息。這樣的測量方法已經成功地用于氣體和有機材料的測量。
技術參數：
技術指標
光譜范圍：0.1-4.0THz
分辨率： <50GHz(傅立葉變換后)
動態范圍：>70dB(峰值處)
工作模式：透射或反射
測試距離：1-40cm
Thz發射端：光電導天線
Thz接受端：ZnTe晶體
軟件界面：Labview
通訊接口：USB2.0 & 藍牙
尺寸： 10.5”×6.25”×2.75”
重量： <4.2ibs
主要特點：
特點
緊湊的Thz發射及接收設計; 實時的光譜顯示，探測范圍4THz
快速掃描，達20Hz ；透射和發射工作模式
I/O端口，可外部控制; 抗振動結構設計
集成化設計，使用簡便 ;USB2.0及藍牙連接 ;可通過網絡遠程通訊
LUMiFlector
ASD
Zetium
Serstech 100 Indicator
FluoroMax -
N-500
SA5
近紅外光譜分析儀(點擊可看詳細資料)
Metorex C100型
全譜直讀光譜儀
UV9600D
ARL? QUANT'X EDXRF
