粉體行業在線展覽
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先鋒科技（香港）股份有限公司
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結合創新型的光學器件設計，SR-750配合Andor公司的各型高性能光譜專用CCD/ICCD，可以非常方便進行空間多點光譜的同時采集與測量。SR-750可以配用多種附件，拓展應用領域，在透射/反射/吸收光譜、Raman光譜、熒光光譜、激光誘導解離光譜等實驗中，提供**的系統解決方案。
主要特點：
l分辨率**可達0.02nm
l多路光譜優化光路，低串擾，高密度多路光譜探測
l針對每臺譜儀記錄三光柵塔輪信息，便于以后光柵升級
l雙探測器出口選項，可安裝不同類型探測器滿足不同實驗需求
l多樣化的附件選擇
l支持單點探測器，波長**可達12um
l光學元件鍍銀選項，保證紅外探測器更好的性能
超高分辨率光譜儀技術參數指標：
型號 | SR750 |
焦距長度 | 500mm |
通光孔徑（F/#） | F/9.7 |
焦平面尺寸 | 28mm×14mm |
波長精度 | 0.03nm |
光譜分辨率 | 0.02nm@2400l/mm， 300nm 0.04nm@1200l/mm，500nm |
波長重復精度 | 10pm |
雜光抑制比 | 2.6×10-5 |
光柵尺寸 | 68mm×68mm |
超高分辨率光譜儀配置選項：
SR-750-A | 1個狹縫輸入口，1個CCD輸出口 |
SR-750-A-SIL | 1個狹縫輸入口，1個CCD輸出口，鍍銀選項 |
SR-750-B1 | 1個狹縫輸入口，1個狹縫輸出口，1個CCD輸出口 |
SR-750-B1-SIL | 1個狹縫輸入口，1個狹縫輸出口，1個CCD輸出口，鍍銀選項 |
SR-750-B2 | 1個狹縫輸入口，2個CCD輸出口 |
SR-750-B2-SIL | 1個狹縫輸入口，2個CCD輸出口，鍍銀選項 |
SR-750-C | 2個狹縫輸入口，1個CCD輸出口 |
SR-750-C-SIL | 2個狹縫輸入口，1個CCD輸出口，鍍銀選項 |
SR-750-D1 | 2個狹縫輸入口，1個狹縫輸出口，1個CCD輸出口 |
SR-750-D1-SIL | 2個狹縫輸入口，1個狹縫輸出口，1個CCD輸出口，鍍銀選項 |
SR-750-D2 | 2個狹縫輸入口，2個CCD輸出口 |
SR-5750-D2-SIL | 2個狹縫輸入口，2個CCD輸出口，鍍銀選項 |
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