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儀器簡介：

HCX09A薄膜熱物性測試儀

該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數。薄膜物理指出當物體很薄時，同樣材料薄膜狀態的物性與容積狀態的物性不一定相同，因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態下進行。根據物體表面溫度按余弦（或正弦）規律變化時的瞬態實驗模型。采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數，由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態下，當溫度振蕩頻率達到一定值后，利用樣品上、下表面溫度的相位差計算導溫系數或導熱系數。儀器專用于研究薄膜材料熱物性特性。

技術參數：

HCX09A薄膜熱物性測試儀

該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數。薄膜物理指出當物體很薄時，同樣材料薄膜狀態的物性與容積狀態的物性不一定相同，因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態下進行。根據物體表面溫度按余弦（或正弦）規律變化時的瞬態實驗模型。采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數，由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態下，當溫度振蕩頻率達到一定值后，利用樣品上、下表面溫度的相位差計算導溫系數或導熱系數。儀器專用于研究薄膜材料熱物性特性。

主要技術參數：

1．導熱系數范圍：0.05～20w/m•k

2．儀器實現數字化測溫，精度優于0.2級。

3．測量結果，準確度 ±3%

4．計量加熱功率可調節±1%。

5.樣尺寸要求：圓柱體￠15--30*5--30mm .

6.溫度和保護氣氛按用戶要求定制。

7.配接計算機實現全自動測試分析。