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材料的熱物理性質以及*終產品的傳熱優化在工業應用領域變得越來越重要。

經過幾十年的發展，閃射法已經成為常用的用于各種固體、粉末和液體熱導率、熱擴散系數的測量方法。

薄膜熱物性在工業產品中正變得越來越重要，如：相變光盤介質、熱電材料、發光二極管（LED ） ，相變存儲器、平板顯示器以及各種半導體。在這些工業領域中，特定功能沉積膜生長在基底上以實現器件的特殊功能。由于薄膜的物理性質與塊體材料不同，在許多應用中需要專門測定薄膜的參數。

基于已實現的激光閃射技術，LINSEIS TF-LFA 薄膜導熱測試儀(Laserflash for thin films)可以測量80nm——20μm厚度薄膜的熱物理性質。

1.瞬態熱反射法（后加熱前檢測（RF））:

由于薄膜材料的物理性質與基體材料顯著不同，必需要有相應的技術來克服傳統激光閃射法的不足，即瞬態熱閃射法。

測量模型與傳統激光閃射法相同：檢測器和激光器在樣品兩側。考慮到紅外探測器測試薄膜太慢，因此檢測是通過熱反射方法完成的。該技術的原理是材料在加熱時，表面反射率的變化可*終用于推導出熱性能。測量反射率隨時間的變化，得到的數據代入包含的系數模型里面并快速計算出熱性能。

2. 時域熱反射法（前加熱前檢測（FF））:

時域熱反射技術是另一種測試薄層或薄膜熱性能（熱導率，熱擴散率）的方法。測量方式的幾何構造被稱為“前加熱前檢測（FF）”，因為檢測器和激光在樣品上的同一側。該方法可以應用于非透明基板上不適合使用RF技術的薄膜層。

3. 瞬態熱反射法（RF）和時域熱反射法（FF）相結合:

兩種方法可以集成在一個系統中并實現兩者優點的結合。

*可更換爐體

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