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1-5萬元

日本snk

Parallel Eye D

14

不限

粉體表面微粒子檢測
可視化表面附著顆粒：Parallel Eye D可以作為表面異物觀察光源，通過與D-light相同的原理，選擇性地可視化粘附到表面的熒光粒子。這使得它能夠檢測粉體表面附著的微小顆粒，幫助識別粉體在生產、運輸或使用過程中可能受到的污染。
熒光顏色差異識別物質類型：該設備還可以通過熒光顏色的差異來識別物質的類型。這意味著在檢測粉體表面微粒子時，不僅能發現其存在，還能初步判斷這些微粒子的成分，這對于粉體質量控制和污染源追蹤具有重要意義。
粉體加工環境監測
懸浮微粒可視化：Parallel Eye D不僅可以觀察粘附在表面的細顆粒和污垢，還可以觀察漂浮的細顆粒。在粉體加工環境中，如粉碎、混合、篩分等工序，會產生大量的懸浮微粒，這些微粒可能會影響粉體的質量和加工設備的性能。通過Parallel Eye D，可以實時監測這些懸浮微粒的分布和濃度，及時采取措施減少粉塵污染。
遠程可視化：該設備的光源可以到達很遠的地方，即使在距離光源幾米遠的地方，也能實現微粒的可視化。這使得它能夠在粉體加工車間等較大空間內進行有效的監測，無需近距離接觸設備或物料，提高了監測的靈活性和安全性。
粉體質量控制與優化
與圖像處理軟件結合：Parallel Eye D可以與圖像處理軟件包“Particle Eye”結合使用，在PC上進行實時圖像處理和記錄。這樣可以對粉體表面的微粒子進行定量分析，記錄微粒子的數量、大小和分布等信息，為粉體質量控制提供準確的數據支持。
低成本高靈敏度檢測：與低功率激光器相比，Parallel Eye D結合高靈敏度相機“Eyescope”可以實現高靈敏度的氣流和細顆粒可視化，且成本相對較低。這對于粉體生產企業來說，是一種經濟高效的微粒子檢測解決方案，有助于降低質量控制成本，提高生產效率。